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【學術報告】芯片測試技術及其產學研合作
題目：芯片測試技術及其產學研合作
報告人：Jeff Schulze
報告時間：2016年6月17日下午4點
報告地點：工程技術樓A座216
報告人簡介：
Jeff Schulze，系統應用工程師，畢業于California State Polytechnic University. 從事半導體芯片測試20余年，目前就職于Advantest公司，曾經就職于Broadcast Microwave Services, ClariPhY Communications, and Maxlinear Inc. 擅長于機器人電氣控制系統的系統可靠性測試、數字芯片測試，混頻和射頻信號的測試。
歡迎感興趣的全校師生參加。
機械學院
2016年6月17日
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【關閉】
