【學術報告】TEM和STEM的高分辨表征

學術報告：《TEM和STEM的高分辨表征》

主講人：中國科技大學教授  張庶元

時間：2016年7月11日（星期一）上午9:00

地點：新城校區圖書館報告廳

報告人簡介及內容摘要：

張庶元，中國科技大學教授，博士生導師。1984-1986赴美訪問學者，師從國際電子顯微學大師J.M.Cowley，從事材料顯微結構的表征、特別是高分辨電子顯微結構表征的研究。30多年來，主持和參與了多項國家自然科學基金課題，發表學術論文100余篇（包括合作研究）。 曾獲中國科學院自然科學獎一等獎一項，中國分析測試學會科學技術獎二等獎兩項。現為安徽省電子顯微學會顧問，是4-8屆中國電子顯微學會理事，第8屆常務理事。

高分辨透射電子顯微術（HRTEM）和掃描透射電子顯微術（STEM），可以在納米或原子尺度上表征物質的顯微結構、化學組成、以及電子結構，從而大大加深了人們對物質結構與性能關系的了解。報告擬簡述TEM和STEM的基本工作原理及相關分析技術，并詳細介紹在類石墨烯材料、納米光電催化材料、以及鈣鈦礦鐵電材料等方面表征的一些應用實例。

歡迎廣大師生踴躍參加

                                                材料學院 化工學院 科技處

                                                     2016年7月7日